Charakterisierung

Zur Analyse von Materialien und Systemen stehen eine Vielzahl von modernen Methoden und Geräten am ISFH zur Verfügung, die wir für optische Messungen, mikroskopische Untersuchungen und elektronische Messungen einsetzen:

• UV-VIS-IR Spektrometer
• FTIR Spektrometer
• Ellipsometer
• Rasterelektronenmikroskop (REM)
• Infrared Lifetime Mapping (ILM)
• Lock-in Infrarot-Thermographie
• Infrared Trap Mapping (ITM)
• Impedanzspektroskopie
• DLTS - deep level transient spectroscopy - Störstellenspektroskopie
• Kapazitäts-Spannungsmessung - capacity-voltage C(V) measurement