Das ALU plus Zellkonzept
n-Typ Czochralski (Cz) Silicium hat wesentliche Vorteile gegenüber p-Typ Cz Silicium-Material. Es hat eine deutlich höhere Ladungsträgerlebensdauer als auch eine erheblich bessere Lebensdauerstabilität unter Beleuchtung. Solarzellen, die auf n-Typ Silicium-Material hergestellt werden, benötigen jedoch einen p+-Emitter, um den pn-Übergang zu erzeugen. Dieser p+-dotierte Bereich kann entweder über eine Hochtemperatur-Bordiffusion oder potentiell Kostengünstiger über einen Siebdruckprozess erzeugt werden, bei dem eine Aluminium-Siebdruckpaste auf den Siliciumwafer gedruckt wird und der Al-p+ Emitter anschließend in einem Durchlauf-Feuerofen einlegiert wird. Die Hochtemperatur-Bordiffusion ist technologisch anspruchsvoller und neigt dazu kristallographische Defekte im Volumen zu erzeugen, welche die Ladungsträgerlebensdauer herabsetzen. Aus diesem Grund ist die Bordiffusion heute nicht verbreitet in der industriellen Fertigung von Solarzellen und wurde bisher hauptsächlich nur für die Herstellung von hocheffizienten Solarzellen im Labor eingesetzt. Dem gegenüber gestellt gibt es den kostengünstigen und technologisch einfachen Siebdruckprozess zur Herstellung des p+-Gebiets, welcher bei heutigen industriell gefertigten kristallinen p-Typ Silizium-Solarzellen hauptsächlich zum Herstellen des Rückseitenfeldes („back surface field“, BSF) eingesetzt wird und am ISFH in kristallinen n-Typ Silicium-Solarzellen bereits als Al-p+ Emitter verwendet wird.
Die ganzflächige Metallisierung des siebgedruckten Al-p+ Emitters hat jedoch eine relativ hohe Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit zur Folge, welche den Wirkungsgrad der Solarzelle limitiert. Um diesen limitierenden Faktor zu umgehen, basiert unsere ALU+ Solarzelle auf einem siebgedruckten Al-p+ Emitter, dessen Oberfläche passiviert ist.
Um eine Emitteroberfläche zu passivieren, muss diese sauber und frei von Metallen sein. Zu diesem Zweck haben wir die Oberfläche des siebgedruckten Al-p+ Emitters im Detail untersucht und eine Prozesssequenz entwickelt, welche es ermöglicht, die mittels Siebdrucktechnik hergestellte Al-p+ Emitteroberfläche effektiv zu passivieren.
Abbildung 30 (a) zeigt eine rasterelektronenmikroskopische (REM) Aufnahme des Al-p+ Emitters im Querschnitt unmittelbar nach dem Feuerschritt in einem Durchlauf-Feuerofen. Der Al-dotierte p+-Bereich erscheint in diesem Bild auf Grund des Potentialkontrastes deutlich heller als der hochohmige Substrat-Siliziumwafer.
Abbildung 30 (b) zeigt eine Draufsicht-REM-Aufnahme einer gekippten Al-p+ Oberfläche nachdem die verbleibende Al-Siebdruckpaste und das Al-Si Eutektikum in einer Salzsäurelösung (HCl) entfernt wurden. Charakteristische Oberflächeninseln erscheinen als helle Kontraste auf der dunklen Al-p+ Oberfläche. Typische Abmessungen dieser Oberflächeninseln liegen im Bereich von 1 bis 3 µm. Abbildung 30 (c) hingegen zeigt eine transmissionselektronenmikroskopische (TEM) Aufnahme einer einzelnen mittels Ionendünnung präparierten Oberflächeninsel im Querschnitt. Unter Zuhilfenahme der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse (EDX) haben wir sowohl Elementverteilungen als auch Linienanalysen an der Oberflächeninsel aus Abbildung 30 (c) durchgeführt, welche ein erhöhtes Al Signal unterhalb eines Si Signals an den in der Abbildung mit Pfeilen markierten Positionen zeigen.
Aus diesem Befund schließen wir, dass an diesen Positionen Al-reiches Material von einer dünnen Si-Schicht bedeckt ist und demnach von der HCl-Lösung nicht entfernt werden kann. Da die Al-reichen Oberflächeninseln eine effektive Passivierung der Al-p+ Emitteroberfläche verhindern, haben wir am ISFH eine Passiviermethode entwickelt, bei der die verbleibende Al-Siebdruckpaste sowie ein oberflächennaher Teil des siebgedruckten Al-p+ Emitters nasschemisch entfernt werden, bevor die Oberfläche mit einer 20 nm dicken Schicht amorphen Siliziums (a-Si) passiviert wird.
Dieser neu entwickelte passivierte Al-p+ Emitter wurde in eine n+np+ Solarzellenstruktur implementiert, die ALU+-Solarzelle. Abbildung 31 zeigt zwei Möglichkeiten der Umsetzung einer ALU+-Solarzelle mit ober-
flächenpassivierten siebgedruckten Al-p+ Emitter auf der Zellrückseite5.Die a-Si Passivierung ist auf der Rückseite der Solarzelle aufgebracht mit entweder lokal durch eine Schattenmaske aufgedampften Al-Fingern [Abb. 31 (a)], oder mit lokal geöffneten Kontaktpunkten und ganzflächig aufgedampfter Al-Metallisierung [Abb. 31 (b)]. Als Basismaterial verwenden wir phosphordotiertes n-Typ Cz Silicium-Material mit einem spezifischen Widerstand von ~3 Ωcm. Die Vorderseite der Zellen wurde mit zwei verschiedenen optimierten Phosphordiffusionen versehen, die Schichtwiderstände von 120 Ω/sq. und 250 Ω/sq. aufweisen mit einer gut zu passivierenden Oberflächendotierkonzentration von 7×1019 cm-3 und 3×1019 cm-3.
Der siebgedruckte Al-p+ Emitter befindet sich auf der Rückseite unserer Zellen, wo die verbleibende Al-Siebdruckpaste von der Emitteroberfläche in einer HCl-Lösung entfernt und der Al-p+ Emitter in einer KOH-Lösung um 2-3 µm rückgeätzt wird. Anschließend wird auf die saubere Al-p+ Emitteroberfläche bei 225°C mittels plasmaunterstützter chemischer Gasphasenabscheidung (PECVD) eine 20 nm dicke a-Si-Passivierschicht abgeschieden. Zuletzt dampfen wir durch eine Schattenmaske die Kontaktfinger auf die Zellrückseite [Abb. 31 (a)]. Bei dem zweiten Zelltyp wird die mit dem a-Si versehene Emitteroberfläche mit einer 200 nm dicken PECVD-SiOx Schicht bedeckt, in welcher dann Kontaktpunkte photolithographisch geöffnet werden.





